XRF如何工作 - X射線熒光光譜

　　X射線熒光（XRF）是用于確定各種材料中元素濃度的非破壞性分析方法。

　　XRF通過用來自X射線管的X射線束照射樣品來工作，導致特征X射線從樣品中的每個元素發出熒光。 檢測器測量每個X射線的能量和強度（以特定能量每秒的x射線數），其使用諸如基本參數或用戶生成的校準曲線之類的非標準技術轉換成元素濃度。

　　元素的存在通過元件的特征X射線發射波長或能量來識別。 通過測量該元件的特征X射線發射的強度來量化存在的元素的量。

　　原子級

　　原子 - 堿性配置ONE - 所有原子具有固定數量的電子。這些電子排列在核周圍的軌道上。能量分散XRF（EDXRF）通常捕獲前三個電子軌道K，L和M線的活動。

　　原子 - 基本配置顯示殼 - 這些電子排列在核周圍的軌道上。能量分散XRF（EDXRF）通常捕獲前三個電子軌道K，L和M線的活動。